偏移后 Cpk 计算器
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偏移后 Cpk
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Cpk with Shift
Cpk with Shift
📐 计算公式
δ=0 时回到原 Cpk。
过程均值相对中心偏移 δ 后的能力。
上规格限 USL
下规格限 LSL
标称中心
偏移量 δ
过程标准差 σ
计算
重置
导出明细 CSV
📌 计算说明
偏移使 Cpk 下降。
δ=0 时回到原 Cpk。
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📚 深度解析:偏移后 Cpk 计算器
💡 常见使用场景
已知『标称值』与实测『偏移量』(如夹具对刀误差、定位偏差),直接由标称值+偏移推得实际均值,再算偏移后的 Cpk。
设计阶段做稳健性评估:给定允许的偏移上限,反推需要的过程σ 才能满足目标 Cpk。
比对『中心值能力』与『实际偏移后能力』的落差,作为纠偏优先级依据。
公式
实际均值 μ = 标称值 + 偏移量(偏移量可正可负,代表相对标称的系统性偏差);Cpk = min[(USL − μ)/(3σ), (μ − LSL)/(3σ)]。该工具把『标称值+偏移』作为 μ 代入,省去先测均值的步骤。
算例
标称 10.0、偏移 0.02 → μ=10.02;规格 USL=10.05、LSL=9.95、σ=0.01:Cpk = min[(10.05−10.02)/(3×0.01), (10.02−9.95)/(3×0.01)] = min[0.03/0.03, 0.07/0.03] = min[1.000, 2.333] = 1.000,实际均值 μ=10.0200。仅 0.02 mm 的偏移就把能力从 1.667 拉到 1.0,说明该尺寸对偏心非常敏感,应优先控制偏移而非继续压缩σ。
❓ 常见问题(FAQ)
偏移量怎么得到?
偏移量来自对刀误差、夹具定位偏差或长期均值相对标称的偏差,可由过程数据 μ−标称 反算,也可由量具/检具检定给出;它是系统性偏差,不是随机波动。
偏移后 Cpk 与直接算 Cpk 有何不同?
数学上等价,只是输入方式不同:普通 Cpk 工具吃『实测均值 μ』,本工具吃『标称值+偏移量』,更适合设计评审与偏移敏感性分析,避免先跑一轮均值测量。