偏移后 Cpk 计算器 使用指南

偏移后 Cpk 计算器求过程均值相对中心偏移 δ 后的实际能力指数，适合存在系统偏差时的过程能力准确评估。

计算公式与原理

δ=0 时回到原 Cpk。

过程均值相对中心偏移 δ 后的能力。

使用步骤

1. 填写「上规格限 USL」。
2. 填写「下规格限 LSL」。
3. 填写「标称中心」。
4. 填写「偏移量 δ」。
5. 填写「过程标准差 σ」。
6. 结果区会即时更新；可一键复制结果用于记录或汇报。

典型使用场景

• 已知『标称值』与实测『偏移量』（如夹具对刀误差、定位偏差），直接由标称值+偏移推得实际均值，再算偏移后的 Cpk。
• 设计阶段做稳健性评估：给定允许的偏移上限，反推需要的过程σ 才能满足目标 Cpk。
• 比对『中心值能力』与『实际偏移后能力』的落差，作为纠偏优先级依据。

算例参考

• 公式：实际均值 μ = 标称值 + 偏移量（偏移量可正可负，代表相对标称的系统性偏差）；Cpk = min[(USL − μ)/(3σ), (μ − LSL)/(3σ)]。该工具把『标称值+偏移』作为 μ 代入，省去先测均值的步骤。
• 算例：标称 10.0、偏移 0.02 → μ=10.02；规格 USL=10.05、LSL=9.95、σ=0.01：Cpk = min[(10.05−10.02)/(3×0.01), (10.02−9.95)/(3×0.01)] = min[0.03/0.03, 0.07/0.03] = min[1.000, 2.333] = 1.000，实际均值 μ=10.0200。仅 0.02 mm 的偏移就把能力从 1.667 拉到 1.0，说明该尺寸对偏心非常敏感，应优先控制偏移而非继续压缩σ。

注意事项

本工具纯前端运行，输入内容不上传服务器；结果为按上述口径得到的理论估算值。实际应用受设备参数、测量条件与当地规范影响，请以设备铭牌、检测报告与现行标准为准，重大决策建议咨询专业人士。

偏移量怎么得到？

偏移量来自对刀误差、夹具定位偏差或长期均值相对标称的偏差，可由过程数据 μ−标称 反算，也可由量具/检具检定给出；它是系统性偏差，不是随机波动。

偏移后 Cpk 与直接算 Cpk 有何不同？

数学上等价，只是输入方式不同：普通 Cpk 工具吃『实测均值 μ』，本工具吃『标称值+偏移量』，更适合设计评审与偏移敏感性分析，避免先跑一轮均值测量。