X̄ 控制圖界限計算器
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均值控制圖界限
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Xbar Control Limits
Xbar Control Limits
📐 計算公式
σ=2、n=5 → 界限 ±2.683。 σ/√n 為均值標準誤。
子組均值控制圖的 3σ 控制界限。
總均值 x̄̄
標準差 σ
子組大小 n
計算
重置
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📌 計算說明
50、σ=2、n=5 → 界限 ±2.683。
σ/√n 為均值標準誤。
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📚 深度解析:X̄ 控制圖界限計算器
💡 常見使用場景
為均值控制圖(X̄圖)計算中心線 CL 與控制限 UCL/LCL,監控過程均值是否受控、有無特殊原因波動。
過程能力研究前先確認過程穩定(受控),否則能力指數無意義。
子組容量變化時(n 不同),按 √n 更新標準誤與界限。
公式
標準誤 SE = σ/√n(σ 為過程
標準差
,n 為子組容量);中心線 CL = μ(過程目標/均值);控制限 UCL = μ + 3·SE、LCL = μ − 3·SE(3σ 原則,對應約 0.27% 誤發警報率)。σ 未知時多用子組極差均值 R̄/d₂ 估計。
算例
過程目標 μ=50、σ=2、子組容量 n=5:SE = 2/√5 ≈ 0.8944;UCL = 50 + 3×0.8944 ≈ 52.683,LCL = 50 − 3×0.8944 ≈ 47.317,CL = 50.000。若某子組均值超出 [47.317, 52.683] 即觸發判異,應查特殊原因而非立即調機。
❓ 常見問題(FAQ)
公式裡的 σ 用哪個?
控制圖限用『過程固有標準差』估計(如 R̄/d₂ 或 S̄/c₄),反映受控下的普通原因波動;不要用全樣本整體標準差(含特殊原因會誇大 σ、放寬控制限、漏檢異常)。
子組容量 n 越大控制限越窄嗎?
是的。SE = σ/√n,n 越大 SE 越小、控制限越窄,對均值漂移越敏感;但 n 過大會增加檢測滯後與成本,常規取 4~5,關鍵過程可取更大子組。