📚 深度解析：偏移後 Cpk 計算器

💡 常見使用場景

已知『標稱值』與實測『偏移量』（如夾具對刀誤差、定位偏差），直接由標稱值+偏移推得實際均值，再算偏移後的 Cpk。
設計階段做穩健性評估：給定允許的偏移上限，反推需要的過程σ 才能滿足目標 Cpk。
比對『中心值能力』與『實際偏移後能力』的落差，作為糾偏優先順序依據。

公式

實際均值 μ = 標稱值 + 偏移量（偏移量可正可負，代表相對標稱的系統性偏差）；Cpk = min[(USL − μ)/(3σ), (μ − LSL)/(3σ)]。該工具把『標稱值+偏移』作為 μ 代入，省去先測均值的步驟。

算例

標稱 10.0、偏移 0.02 → μ=10.02；規格 USL=10.05、LSL=9.95、σ=0.01：Cpk = min[(10.05−10.02)/(3×0.01), (10.02−9.95)/(3×0.01)] = min[0.03/0.03, 0.07/0.03] = min[1.000, 2.333] = 1.000，實際均值 μ=10.0200。僅 0.02 mm 的偏移就把能力從 1.667 拉到 1.0，說明該尺寸對偏心非常敏感，應優先控制偏移而非繼續壓縮σ。

❓ 常見問題（FAQ）

偏移量怎麼得到？: 偏移量來自對刀誤差、夾具定位偏差或長期均值相對標稱的偏差，可由過程資料 μ−標稱反算，也可由量具/檢具檢定給出；它是系統性偏差，不是隨機波動。
偏移後 Cpk 與直接算 Cpk 有何不同？: 數學上等價，只是輸入方式不同：普通 Cpk 工具吃『實測均值 μ』，本工具吃『標稱值+偏移量』，更適合設計評審與偏移敏感性分析，避免先跑一輪均值測量。

偏移後 Cpk 計算器

Cpk with Shift

🔗 相關工具

📚 深度解析：偏移後 Cpk 計算器

💡 常見使用場景

❓ 常見問題（FAQ）