偏移後 Cpk 計算器 使用指南

偏移後 Cpk 計算器求過程均值相對中心偏移 δ 後的實際能力指數，適合存在系統偏差時的過程能力準確評估。

計算公式與原理

δ=0 時回到原 Cpk。

過程均值相對中心偏移 δ 後的能力。

使用步驟

1. 填寫「上規格限 USL」。
2. 填寫「下規格限 LSL」。
3. 填寫「標稱中心」。
4. 填寫「偏移量 δ」。
5. 填寫「過程標準差 σ」。
6. 結果區會即時更新；可一鍵複製結果用於記錄或彙報。

典型使用場景

• 已知『標稱值』與實測『偏移量』（如夾具對刀誤差、定位偏差），直接由標稱值+偏移推得實際均值，再算偏移後的 Cpk。
• 設計階段做穩健性評估：給定允許的偏移上限，反推需要的過程σ 才能滿足目標 Cpk。
• 比對『中心值能力』與『實際偏移後能力』的落差，作為糾偏優先順序依據。

算例參考

• 公式：實際均值 μ = 標稱值 + 偏移量（偏移量可正可負，代表相對標稱的系統性偏差）；Cpk = min[(USL − μ)/(3σ), (μ − LSL)/(3σ)]。該工具把『標稱值+偏移』作為 μ 代入，省去先測均值的步驟。
• 算例：標稱 10.0、偏移 0.02 → μ=10.02；規格 USL=10.05、LSL=9.95、σ=0.01：Cpk = min[(10.05−10.02)/(3×0.01), (10.02−9.95)/(3×0.01)] = min[0.03/0.03, 0.07/0.03] = min[1.000, 2.333] = 1.000，實際均值 μ=10.0200。僅 0.02 mm 的偏移就把能力從 1.667 拉到 1.0，說明該尺寸對偏心非常敏感，應優先控制偏移而非繼續壓縮σ。

注意事項

本工具純前端執行，輸入內容不上傳伺服器；結果為按上述口徑得到的理論估算值。實際應用受裝置引數、測量條件與當地規範影響，請以裝置銘牌、檢測報告與現行標準為準，重大決策建議諮詢專業人士。

偏移量怎麼得到？

偏移量來自對刀誤差、夾具定位偏差或長期均值相對標稱的偏差，可由過程資料 μ−標稱 反算，也可由量具/檢具檢定給出；它是系統性偏差，不是隨機波動。

偏移後 Cpk 與直接算 Cpk 有何不同？

數學上等價，只是輸入方式不同：普通 Cpk 工具吃『實測均值 μ』，本工具吃『標稱值+偏移量』，更適合設計評審與偏移敏感性分析，避免先跑一輪均值測量。