超规格概率计算器 使用指南
超规格概率计算器在正态假设下求超出上规格限的概率,输入均值、标准差与 USL 输出缺陷率,适合过程风险控制。
计算公式与原理
z=5 → 概率约 2.87e-7。 对称时总缺陷为两侧之和。
正态假设下超出上规格限的概率。
使用步骤
- 填写「上规格限 USL」。
- 填写「过程均值 μ」。
- 填写「过程标准差 σ」。
- 结果区会即时更新;可一键复制结果用于记录或汇报。
典型使用场景
- 假设质量特性服从正态分布时,估算单侧(仅上规格或仅下规格)超界的概率与对应 DPMO,把能力指数翻译成直观的『不良率』。
- 客户要求用『百万缺陷机会数』沟通时,由概率换算成 DPMO 便于横向对标。
- 给定规格与过程参数,反推当前 σ 水平下的尾概率,判断是否需要加严控制。
算例参考
- 公式:单侧(上规格)超界概率 P = 1 − Φ(z),其中 z = (USL − μ)/σ,Φ 为标准正态分布累积分布函数;对应 DPMO = P × 10⁶。同样方法可算下规格 P = Φ((μ − LSL)/σ)。本工具以上规格为例。
- 算例:轴径 USL=10.05、μ=10.0、σ=0.02:z = (10.05−10.0)/0.02 = 2.50;P = 1 − Φ(2.5) = 1 − 0.99379 = 0.6210%;对应 DPMO ≈ 6209.7。若把 σ 从 0.02 收到 0.01,则 z=5、P≈0.00003%、DPMO≈0.3,几乎零缺陷——可见压缩离散度对降低尾概率有指数级收益。
注意事项
本工具纯前端运行,输入内容不上传服务器;结果为按上述口径得到的理论估算值。实际应用受设备参数、测量条件与当地规范影响,请以设备铭牌、检测报告与现行标准为准,重大决策建议咨询专业人士。
- 为什么是单侧?
- 本工具按上规格(USL)计算超出上限的尾概率;若关心低于下限,应改用下规格公式 Φ((μ−LSL)/σ)。双侧同时超界且规格远离均值时,两端尾概率可近似相加,但更严谨应直接算规格区间外的总概率。
- 正态分布假设不成立怎么办?
- 实际特性常非严格正态(偏态、厚尾)。此时用正态近似会低估尾概率(厚尾更危险),应做正态性检验(如 Anderson-Darling)或改用非参数方法 / Box-Cox 变换后再评估。