Cp 过程能力计算器 使用指南

输入规格上限 USL、下限 LSL 与过程标准差 σ，工具计算 Cp 过程能力指数，衡量规格宽度与过程离散程度的比值（不考虑偏移），判断工序能否稳定满足公差要求。

计算公式与原理

σ=0.01 → Cp=1.667。 Cp≥1.33 通常视为合格。

衡量规格宽度与过程离散程度的比值（不考虑偏移）。

使用步骤

1. 填写「上规格限 USL」。
2. 填写「下规格限 LSL」。
3. 填写「过程标准差 σ」。
4. 结果区会即时更新；可一键复制结果用于记录或汇报。

典型使用场景

• 评估工序在统计受控状态下满足规格要求的潜在能力，只看规格宽度与过程离散程度，不考虑均值是否居中。
• 新产品试产或设备验收时，用短期数据（通常 25~50 个子组）估计过程σ，判断过程是否具备满足公差的基础能力。
• 横向对比不同供应商或不同产线的『先天』加工精度（与均值位置无关）。

算例参考

• 公式与判定：Cp = (USL − LSL) / (6σ)，其中 σ 为过程标准差（能力研究用组内标准差，非整体标准差），6σ 表示过程自然容差（±3σ）。判定：Cp ≥ 1.67 为能力过高（可放宽公差或降低成本）；1.33 ≤ Cp < 1.67 为充足；1.00 ≤ Cp < 1.33 为勉强；Cp < 1.00 为不足，需改进。注意 Cp 不反映均值偏移，均值偏心时须看 Cpk。
• 算例：轴径规格 10±0.05 mm，即 USL=10.05、LSL=9.95，过程σ=0.01：Cp = (10.05−9.95)/(6×0.01) = 0.10/0.06 ≈ 1.667，达 1.33 以上、接近 1.67，能力充足。若过程波动扩大到 σ=0.02，则 Cp = 0.10/0.12 ≈ 0.833 < 1.00，能力明显不足，应优先降低离散度（而非调整均值）。

注意事项

本工具纯前端运行，输入内容不上传服务器；结果为按上述口径得到的理论估算值。实际应用受设备参数、测量条件与当地规范影响，请以设备铭牌、检测报告与现行标准为准，重大决策建议咨询专业人士。

Cp 和 Cpk 有什么区别？

Cp 只看规格宽度与过程离散程度、假设过程均值恰好居中；Cpk 额外计入均值相对规格中心的偏移，是实际可达的能力。均值居中时 Cpk=Cp，偏移越大 Cpk 越小，因此 Cpk 是更保守也更常用的判据。

公式里的 σ 用哪个？

过程能力研究用『组内标准差』（如子组极差法、移动极差法），代表短期、固有波动；不要用包含特殊原因的整体标准差，否则会高估波动、低估能力。对长期性能 Pp/Ppk 才用整体标准差。