由公差帶與測量標準差求測量能力指數 使用指南

輸入被測特性的上規格限 USL、下規格限 LSL 與測量過程標準差 s，按 Cg = (USL − LSL) / (6·s) 計算測量能力指數。用於評估量具分辨能力是否滿足公差帶要求（一般要求 Cg ≥ 1.33）。

計算公式與原理

Cg = (USL − LSL) / (6·s)

輸入上/下規格限與測量標準差 s，求 Cg。

使用步驟

1. 填寫「上限 USL」。
2. 填寫「下限 LSL」。
3. 填寫「測量標準差 s」。
4. 結果區會即時更新；可一鍵複製結果用於記錄或彙報。

典型使用場景

• 用量具能力指數
• Cg
• 選具

算例參考

• 公式：Cg = (USL-LSL)/(6*sigma_measure)（或 0.2*(USL-LSL) 約束式）。例：公差 0.1、sigma_m=0.008，Cg=0.1/(6*0.008)=2.08。
• USL=8，LSL=2，s=0.25：Cg=(8−2)/(6×0.25)=4.000，遠高於 1.33 的門檻，說明量具分辨能力對這條公差帶綽綽有餘。

注意事項

本工具純前端執行，輸入內容不上傳伺服器；結果為按上述口徑得到的理論估算值。實際應用受裝置引數、測量條件與當地規範影響，請以裝置銘牌、檢測報告與現行標準為準，重大決策建議諮詢專業人士。

判據？

Cg≥1.33 通常可接受。

與 Cpk？

Cg 看測量系統自身，Cpk 看過程。