Cpk 過程能力計算器 使用指南

Cpk 過程能力計算器同時考慮過程中心偏移求能力指數，輸入均值、標準差與規格限輸出 Cpk，適合六西格瑪與質量管控。

計算公式與原理

Cpk=Cp。 Cpk≥1.33 為過程能力充足。

同時考慮過程中心偏移的能力指數。

使用步驟

1. 填寫「上規格限 USL」。
2. 填寫「下規格限 LSL」。
3. 填寫「過程均值 μ」。
4. 填寫「過程標準差 σ」。
5. 結果區會即時更新；可一鍵複製結果用於記錄或彙報。

典型使用場景

• 在 Cp 之外進一步納入均值偏移，給出過程實際能穩定產出合格品的能力，是供方准入與客戶驗收最常用的單一判據。
• 當過程均值因裝置磨損、溫漂等偏離規格中心時，用 Cpk 量化偏移造成的合格品率損失。
• 監控改進措施（如重新對刀、調平夾具）前後的能力變化，驗證糾偏有效。

算例參考

• 公式與判定：Cpk = min[(USL − μ)/(3σ), (μ − LSL)/(3σ)]，取上、下單側能力指數的較小值，代表受偏移壓制的一側。σ 為組內標準差，μ 為過程均值。判定：Cpk ≥ 1.33 能力充足（多數汽車行業要求 ≥1.33 或更高）；1.00 ≤ Cpk < 1.33 勉強；Cpk < 1.00 不足需改進；Cpk ≥ 2.0 為六西格瑪級（考慮 1.5σ 偏移對應約 3.4 DPMO）。
• 算例：軸徑規格 10±0.05（USL=10.05、LSL=9.95），μ=10.0、σ=0.01：Cpk = min[(10.05−10.0)/(3×0.01), (10.0−9.95)/(3×0.01)] = min[0.05/0.03, 0.05/0.03] = min[1.667, 1.667] = 1.667，均值居中故與 Cp 相等。若因刀具磨損使 μ 漂到 10.02：Cpk = min[(10.05−10.02)/0.03, (10.02−9.95)/0.03] = min[1.000, 2.333] = 1.000，即便離散度未變，偏移已使能力跌破 1.33。

注意事項

本工具純前端執行，輸入內容不上傳伺服器；結果為按上述口徑得到的理論估算值。實際應用受裝置引數、測量條件與當地規範影響，請以裝置銘牌、檢測報告與現行標準為準，重大決策建議諮詢專業人士。

Cpk 為什麼取兩者最小值？

過程只能以『更受限的一側』為準：若均值偏上，超出上限的風險更大；偏下則低於下限風險更大。取 min 即保守地把最壞一側作為整體能力，避免被另一側的好看數字掩蓋。

Cpk 到多少才算合格？

沒有統一鐵律，取決於行業與客戶：一般製造業 ≥1.33，汽車/醫療/航空常要求 ≥1.67，關鍵安全件更高。低於 1.0 通常視為過程不合格、必須整改後才能批次交付。