過程能力指數

Process Capability

Process Capability

📐 工作原理與說明

Key formulas: √(variance)

📖 公式與判讀

計算公式

Cp = (USL − LSL) / (6σ) 潛在過程能力

Cpu = (USL − μ) / (3σ) 上偏能力

Cpl = (μ − LSL) / (3σ) 下偏能力

Cpk = min(Cpu, Cpl) 實際過程能力

Zbench = 3 × Cpk 合格率 = Φ(Zbench)

DPMO = (1 − 合格率) × 1,000,000

Cpk 判讀參考

Cpk ≥ 1.67:能力充足(優秀)

1.33 ≤ Cpk < 1.67:能力尚可

1.00 ≤ Cpk < 1.33:能力勉強,需改進

Cpk < 1.00:能力不足,需立即改善

📚 深度解析:過程能力指數 Cp / Cpk

💡 常見使用場景

  • 給定規格上下限,用樣本資料自動算均值與樣本標準差,輸出 Cp、Cpk 與合格率。
  • 手頭只有彙總統計量(均值、標準差)時直接填入,快速評估工序能力。
  • 把 Cpk 換算成 DPMO 與短期 σ 水平,寫進質量月報或客戶報告。
軸徑 10.00±0.05 的能力評估
樣本(mm)10.01,9.99,10.02,10.00,9.98,10.03,9.99,10.01:均值 10.0038、樣本標準差 0.0164(除以 n−1)。規格 9.95–10.05:Cp = 0.10÷(6×0.0164) = 1.016;Cpu=(10.05−10.0038)÷(3×0.0164)=0.939、Cpl=(10.0038−9.95)÷(3×0.0164)=1.093,Cpk = 0.939 —— 能力勉強,且 Cpu 更低說明偏向上限,應把均值下調約 0.004 mm 或直接壓縮波動。

❓ 常見問題(FAQ)

用樣本算標準差時用 n 還是 n−1?
工具對樣本資料用 n−1(無偏估計)。這與過程能力分析中常用的短期 σ 估計一致;若你手頭是已知的過程 σ,請用手工錄入模式填入。
Cpk 高但仍有客戶投訴,為什麼?
Cpk 假設資料正態且過程穩定。若存在雙峰、測量系統誤差或規格理解偏差,指數會失真。此時應結合控制圖與量具 R&R 一起判斷。
⚠️ 使用說明與注意事項
📖關於「過程能力指數」 ▼

📝工具簡介

計算過程能力指數 Cp、Cpk、Cpu、Cpl,估算雙側合格率與 DPMO,支援直接輸入引數或由樣本資料計算均值與標準差。

✨功能特點

🎯使用場景

如何使用過程能力指數 Cp / Cpk 計算

  1. 在對應的輸入框或選項中填寫、選擇所需引數。
  2. 點選「計算」或「生成」按鈕執行。
  3. 在結果區檢視輸出,可複製結果或匯出使用。

引數說明

適用場景

工作與生活中的相關計算與查詢。

常見問題

過程能力指數 Cp / Cpk 計算是做什麼的?
輸入規格上下限、過程均值與標準差,工具計算 Cp 與考慮偏移的 Cpk,並換算合格品率與百萬缺陷機會數 DPMO,幫助質量工程師評估工序滿足公差的能力水平。
如何使用過程能力指數 Cp / Cpk 計算?
在對應的輸入框或選項中填寫、選擇所需引數,點選「計算」或「生成」按鈕即可執行,結果會在結果區即時顯示,支援複製與匯出。
計算結果準確嗎?
本工具在你的本地瀏覽器中即時計算,不依賴伺服器;只要輸入的引數正確,結果即按對應的規則得出。涉及經驗估算的部分僅供參考,不作為正式依據。
過程能力指數 Cp / Cpk 計算適合哪些場景?
工作與生活中的相關計算與查詢。
使用本工具需要聯網或上傳資料嗎?
不需要。所有計算均在你的裝置本地完成,資料不會上傳到任何伺服器,可放心使用。