光學元件質量合規檢測 使用指南
輸入光學元件檢測引數（表面質量/波前誤差/面形精度/偏心/透射比），依據ISO 10110與MIL-PRF-13830B標準自動判定質量等級與合規性。
計算公式與原理
綜合評分 = Σ(各項評分 × 權重)；表面/PV/RMS/偏心/透射/等級/鍍膜 各 0–100 加權
各子項按閾值對映到 0–100 分後加權求和，得到光學元件質量合規等級（A/B/C）。
典型使用場景
- 按靈敏度/響應波段/暗電流選探測器。
- 對比 Si/InGaAs/光電倍增管適用波段。
- 系統訊雜比估算。
算例參考
- 波段匹配：可見光(400–1000nm)選 Si 探測器量子效率高；近紅外 1310/1550nm 選 InGaAs；深紫外/單光子選 APD/PMT。
- 信噪：訊號電流 1μA、暗電流 0.1nA → 訊雜比≈10⁴；暗電流大或頻寬寬則噪聲升，需製冷或窄帶。
注意事項
本工具純前端執行，輸入內容不上傳伺服器；結果為按上述口徑得到的理論估算值。實際應用受裝置引數、測量條件與當地規範影響，請以裝置銘牌、檢測報告與現行標準為準，重大決策建議諮詢專業人士。
- 靈敏度看什麼？
- 看響應度(A/W)與探測率 D*，弱光選高增益 APD/PMT，強光選線性 Si。
- 暗電流怎麼降？
- 製冷降熱噪聲、選小面積低電容器件、合理偏壓，訊雜比隨之升。