光学元件质量合规检测 使用指南
输入光学元件检测参数（表面质量/波前误差/面形精度/偏心/透射比），依据ISO 10110与MIL-PRF-13830B标准自动判定质量等级与合规性。
计算公式与原理
综合评分 = Σ(各项评分 × 权重)；表面/PV/RMS/偏心/透射/等级/镀膜 各 0–100 加权
各子项按阈值映射到 0–100 分后加权求和，得到光学元件质量合规等级（A/B/C）。
典型使用场景
- 按灵敏度/响应波段/暗电流选探测器。
- 对比 Si/InGaAs/光电倍增管适用波段。
- 系统信噪比估算。
算例参考
- 波段匹配：可见光(400–1000nm)选 Si 探测器量子效率高；近红外 1310/1550nm 选 InGaAs；深紫外/单光子选 APD/PMT。
- 信噪：信号电流 1μA、暗电流 0.1nA → 信噪比≈10⁴；暗电流大或带宽宽则噪声升，需制冷或窄带。
注意事项
本工具纯前端运行，输入内容不上传服务器；结果为按上述口径得到的理论估算值。实际应用受设备参数、测量条件与当地规范影响，请以设备铭牌、检测报告与现行标准为准，重大决策建议咨询专业人士。
- 灵敏度看什么？
- 看响应度(A/W)与探测率 D*，弱光选高增益 APD/PMT，强光选线性 Si。
- 暗电流怎么降？
- 制冷降热噪声、选小面积低电容器件、合理偏压，信噪比随之升。