槽探(探槽/刻槽/取樣)設計 使用指南
槽探(探槽/刻槽/取樣)設計工具。輸入槽探引數,給出探槽規格與刻槽取樣佈置建議,用於礦產地表揭露與取樣工程設計參考。
計算公式與原理
槽探設計 = 規格×取樣
輸入兩個引數,自動計算常用結果
典型使用場景
- 探槽規格:按浮土厚度與基岩揭露需求設計探槽斷面(底寬、深度)
- 刻槽佈置:在槽壁按固定斷面與樣長佈置刻槽樣,控制礦化代表段
- 工程預算:統計槽探方量與樣數,估算工作量與成本
算例參考
- 方法:設計要點:探槽斷面底寬一般 ≥0.6–1.2m、深度以揭穿風化殼至基岩以下 0.5m 為準,邊坡按土質放坡(如 1:0.5~1:1);刻槽斷面常用 10×5cm、樣長 1–2m,沿礦化帶連續刻取(本地參考,須符合 DZ/T 0078 槽探規範)。
- 算例:例:浮土厚 2m、設計探槽斷面 1.2×1.0m(口寬×深)、長 100m → 挖方約 120 m³(1.2×1.0×100);槽壁刻槽斷面 10×5cm、樣長 2m,每 2m 一件樣,100m 探槽可取 50 件樣控制礦化。
注意事項
本工具純前端執行,輸入內容不上傳伺服器;結果為按上述口徑得到的理論估算值。實際應用受裝置引數、測量條件與當地規範影響,請以裝置銘牌、檢測報告與現行標準為準,重大決策建議諮詢專業人士。
- 探槽深度受什麼限制?
- 主要受安全與排水限制,淺部(一般<3–5m)用探槽經濟;更深宜改用淺井或鑽探。深度超過規範限值時須支護並論證安全性。
- 刻槽樣和揀塊樣有何不同?
- 刻槽樣沿固定斷面連續刻取,代表性好、可定量;揀塊樣為隨機揀取,偏差大僅作普查。正式評價優先刻槽等系統取樣。