计算过程能力指数、合格率与不合格品率（DPMO）
Cp = (USL − LSL) / (6σ) 潜在过程能力
Cpu = (USL − μ) / (3σ) 上偏能力
Cpl = (μ − LSL) / (3σ) 下偏能力
Cpk = min(Cpu, Cpl) 实际过程能力
Zbench = 3 × Cpk 合格率 = Φ(Zbench)
DPMO = (1 − 合格率) × 1,000,000
Cpk ≥ 1.67：能力充足（优秀）
1.33 ≤ Cpk < 1.67：能力尚可
1.00 ≤ Cpk < 1.33：能力勉强，需改进
Cpk < 1.00：能力不足，需立即改善
计算过程能力指数 Cp、Cpk、Cpu、Cpl，估算双侧合格率与 DPMO，支持直接输入参数或由样本数据计算均值与标准差。